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采用三角测量原理的多像素技术(MPT)的漫反射传感器

来源:未知    日期:2017/08/17    浏览量:


   PEPPERL+FUCHS(P+F 倍加福),作为全球自动化领域的电子传感与零部件的生产主导者,凭借不断的创新,恒久的质量保证,稳健的发展,保证了迄今六十余年的辉煌成就。P+F传感器在技术上始终处于国际领先地位,产品均达到国际标准和ISO9000质量认可,并有高度自动化的制造、生产能力,建立了全球多达七十多个国家强有力的销售、服务网络,保证最快最优服务,满足用户的要求。

         锝秉工控为企业提供生产过程自动化、设计,安装,调试,现场技术服务和自动化工程项目改造。经营且代理进口编码器,安全栅,传感器,编码器,可编程控制器(PLC),变频器等自动化产品。可直接国外订购,可直接报关,货期可以缩短一半,价格更有优势可以为您争取更大的利润空间。

         随着机器与智能工厂越来越多,在很多工业应用中,在一定背景下可靠地检测目标物至关重要。带背景抑制功能的漫反射传感器通常用于这种类型的应用。众所周知,这些光电传感器在使用时,由于各种各样的环境条件可能产生误动作,例如由于高反光的金属物体的存在。

         在作最佳的方案和更强的性能选择时,一个新的标准传感器已研发成功,它是基于测距原理的漫反射传感器,检测更准确,功能更可靠,简易经济。

         P+F 倍加福创新的MLV41-8-H-IO漫反射传感器的测量原理采用三角测量原理的多像素技术(MPT),具有可靠检测目标与抑制干扰的功能。对测量数据的智能分析使得各种开关功能与出色的技术参数融合在一个设备中。配有标准的IO-Link接口,MLV41-8-H-IO很容易集成到应用系统,从而实现其高度的灵活性和丰富的应用。

         P+F 倍加福MLV41-8-H-IO漫反射传感器的优势:
              1、三角测量原理与检测功能的完美结合;
              2、灵活应用-背景抑制,背景分析,背景/前景抑制,缓冲模式,窗口界面操作;
              3、不受干扰的可靠检测——甚至黑色防腐蚀镀铝三角密封目标物也能准确检测;
              4、标准IO-Link 接口令整个机器的自动参数设置和过程监测都轻而易举。